 |
Компания Melytec представляет модернизированную версию термополевого сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Melytec SM-40, предназначенного для решения фундаментальных и прикладных задач в различных областях науки и техники.
Главной особенностью прибора является наличие внутрилинзового детектора, благодаря которому улучшено разрешение прибора на низких ускоряющих напряжениях. Теперь оно составляет 1,0 нм при 15 кВ и 1,5 нм при 1 кВ во вторичных электронах в режиме торможения пучка.
Прибор имеет большую камеру шириной 360 мм с 16 портами для установки дополнительного оборудования, возможность установки шлюза для быстрой смены образцов шириной 108 мм, высокоточный эвцентрический стол с режимом торможения пучка в качестве опции и выдвижной детектор обратно-отраженных электронов (≤2,5 нм 30 кВ) уже в базовой комплектации.
